手動探針臺是半導(dǎo)體器件測試、光電材料表征及微納器件研發(fā)等領(lǐng)域中常用的精密電學(xué)測試平臺，在科研、生產(chǎn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。它為電子工程師提供了一個便捷、高效的測試平臺，有助于提高產(chǎn)品研發(fā)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。
手動探針臺的優(yōu)點：
1.靈活性高：能夠根據(jù)不同的測試需求，方便地調(diào)整探針的位置和角度，適用于各種形狀、尺寸和封裝形式的樣品測試。無論是小型芯片還是大型電路板，都可以靈活應(yīng)對。
2.可變性強：易于配置環(huán)境和轉(zhuǎn)換測試環(huán)境，不需要復(fù)雜的電子設(shè)備、PC或軟件支持，只需少量培訓(xùn)即可上手操作，非常適合研發(fā)人員進行新產(chǎn)品的開發(fā)和小批量樣品的測試。
3.成本較低：相較于全自動探針臺，結(jié)構(gòu)相對簡單，制造成本和維護成本都較低，對于預(yù)算有限的實驗室和企業(yè)來說是一個較為經(jīng)濟的選擇。
4.精度可靠：具有高精度的機械運動系統(tǒng)，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級別的精度，確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，滿足對測試精度要求較高的應(yīng)用場景。
5.適用范圍廣：不僅可以用于半導(dǎo)體行業(yè)的芯片測試，還可應(yīng)用于金屬、非金屬、高分子材料等多種材料的加熱、恒溫、測溫等實驗，以及電子元件、線路板等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測和故障排查。
手動探針臺的測定步驟：
1.準(zhǔn)備工作
-環(huán)境準(zhǔn)備：確保操作環(huán)境清潔、干燥，無灰塵和雜質(zhì)；檢查操作臺面是否穩(wěn)定，無晃動或傾斜。
-設(shè)備檢查：確認探針臺各部件完好無損且連接牢固，尤其是探針和針頭應(yīng)保持清潔無油污、無磨損或損壞；若設(shè)備配備真空系統(tǒng)，還需檢查其是否正常工作。
-樣品放置：將需要測試的半導(dǎo)體芯片或其他電子元器件放置在手動探針臺的載物臺上(如真空卡盤)，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。
2.樣品定位與觀察
-低倍鏡粗調(diào)：使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡的低倍物鏡下聚焦，以清晰看到樣品的大致形態(tài)和位置。
-高倍鏡精調(diào)：切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品的X-Y方向，將影像調(diào)節(jié)清晰，使待測點位于顯微鏡視場中心。
3.探針調(diào)整與接觸
-裝載探針：將合適的探針裝載到探針座上，并確保探針座的位置合適。
-接近待測點：待測點位置確認好后，調(diào)節(jié)探針座的位置，先將探針移到接近待測點的位置。
-控制施力與接觸：根據(jù)所需的測量任務(wù)選擇合適的探針類型(如尖峰探針適用于精細測量，彈簧探針則適用于需要施加一定壓力的測量)。在接觸測試點時，需控制施加到探針上的力度，過度施力可能導(dǎo)致測試點損壞，而過輕施力可能導(dǎo)致不良接觸，應(yīng)根據(jù)具體情況調(diào)整施力，以確保穩(wěn)定且可靠的接觸。
4.測試執(zhí)行
-連接測試設(shè)備：確保探針與外接的測試設(shè)備(如半導(dǎo)體參數(shù)測試儀、示波器、網(wǎng)絡(luò)分析儀等)連接正確。
-進行測試：按照預(yù)定的測試方案進行操作，獲取相關(guān)數(shù)據(jù)。
5.測試結(jié)束與后續(xù)處理
-記錄數(shù)據(jù)：測試完成后，及時記錄并保存測試數(shù)據(jù)，以便后續(xù)分析和處理。
-清理現(xiàn)場：關(guān)閉相關(guān)設(shè)備電源，取下樣品，清理工作區(qū)域。
更新時間：2025-11-25
點擊次數(shù)：37
當(dāng)前位置：
